飛納掃描電鏡結合孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)，能夠輕松生成并分析掃描電鏡（SEM）圖像。一體化孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)能夠使用戶獲得孔徑的分布狀態(tài)、孔隙參數(shù)如孔徑尺寸和長寬比。全自動化的孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)提供超越光學顯微鏡觀察水平的結果，帶來進一步的探索和創(chuàng)新。生成報告時，可以把柱狀圖和生成的圖像以選定的格式輸出。

孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)使用戶更好地了解材料特性，可以提取出完整的孔徑詳細信息。孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)拉開了孔徑測量軟件的大幕。在探究多孔結構對材料孔隙率和過濾工藝的影響時，這種分析尤其重要。

1）從飛納電鏡中直接獲取圖像

2）測量孔徑的屬性數(shù)據(jù)，如面積、長軸、短軸等

3）操作快捷方便，提高工作效率，使工作安排簡單化可預測
4）圖像采集自由化，數(shù)據(jù)可存儲在網絡和 U 盤，便于分享、交流和參閱
5）導出統(tǒng)計數(shù)據(jù)時，可同時導出清晰圖片